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高低溫濕熱試驗箱技術(shù)規(guī)格:
型號 | SEH-150 | SEH-225 | SEH-408 | SEH-800 | SEH-1000 | |||
工作室尺寸(cm) | 50×50×60 | 50×60×75 | 60×80×85 | 100×80×100 | 100×100×100 | |||
外形尺寸(cm) | 115×75×150 | 115×85×165 | 130×105×170 | 165×105×185 | 170×125×185 | |||
性 能 | 溫度范圍 | 0℃/-20℃/-40℃/-70℃~+100℃/+150℃/+180℃ | ||||||
溫度均勻度 | ≤2℃ | |||||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||||
溫度波動度 | ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示) | |||||||
升溫時間 | +20℃~+150℃/約45min (空載) | |||||||
降溫時間 | +20℃~-20℃/30min/ +20℃~-40℃/50min/ +20℃~-70℃/60min/(空載) | |||||||
濕度范圍 | (10)20~98%RH | |||||||
濕度偏差 | ±3%(>75%RH), ±5%(≤75%R上) | |||||||
溫度控制器 | 中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(控制軟件自行開發(fā)) | |||||||
低溫系統(tǒng)適應(yīng)性 | 的設(shè)計滿足全溫度范圍內(nèi)壓縮機(jī)自動運行 | |||||||
設(shè)備運行方式 | 定值運行、程序運行 | |||||||
制冷系統(tǒng) | 制冷壓縮機(jī) | 進(jìn)口全封閉壓縮機(jī) | ||||||
冷卻方式 | 風(fēng)冷(水冷選配) | |||||||
加濕用水 | 蒸餾水或去離子水 | |||||||
保護(hù)措施 | 漏電、短路、超溫、缺水、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過流 | |||||||
標(biāo)準(zhǔn)裝置 | 試品擱板(兩套)、觀察窗、照明燈、電纜孔(φ50一個)、腳輪 | |||||||
電源 | AC380V 50Hz 三相四線+接地線 | |||||||
材料 | 外殼材料 | 冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標(biāo)準(zhǔn)色) | ||||||
內(nèi)壁材料 | SUS304不銹鋼板 | |||||||
保溫材料 | 硬質(zhì)聚氨脂泡沫 |
一、電子產(chǎn)品的可靠性試驗介紹:
為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗稱為可靠性試驗。試驗?zāi)康耐ǔS腥缦聨追矫妫?br/> 1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況。
2、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息。
3、對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗收。
4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理。
5、為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
對于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗方法??煽啃栽囼炗卸喾N分類方法,如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗。以試驗項目劃分,可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗。若按試驗?zāi)康膩韯澐郑瑒t可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗。若按試驗性質(zhì)來劃分,也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。但通常慣用的分類法,是把它歸納為五大類,即環(huán)境試驗、壽命試驗、篩選試驗、現(xiàn)場使用試驗和鑒定試驗。
1、環(huán)境試驗是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應(yīng)能力,是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。
2、壽命試驗是研究產(chǎn)品壽命特征的方法,這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進(jìn)行。壽命試驗是可靠性試驗中Most important and basic的項目之一,它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效(損壞)隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗,可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析,可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理,作為可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)測、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行(批量保證)試驗條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機(jī)理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗,這就是加速壽命試驗。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。
3、篩選試驗是一種對產(chǎn)品進(jìn)行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品,以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中,由于材料的缺陷,或由于工藝失控,使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障,這些缺陷或故障若能及早剔除,就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。
二、可靠性篩選試驗的特點是:
1、這種試驗不是抽樣的,而是全檢試驗。
2、該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平,但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性,即不能提高每個產(chǎn)品的壽命。
3、不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。淘汰率高,有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴(yán)重缺陷,但也有可能是篩選應(yīng)力強(qiáng)度太高。淘汰率低,有可能產(chǎn)品缺陷少,但也可能是篩選應(yīng)力的強(qiáng)度和試驗時間不足造成的。
通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來評價篩選方法的優(yōu)劣:合理的篩選方法應(yīng)該是β值較大,而Q值適中。
上述各種試驗都是通過模擬現(xiàn)場條件來進(jìn)行的。模擬試驗由于受設(shè)備條件的限制,往往只能對產(chǎn)品施加單一應(yīng)力,有時也可以施加雙應(yīng)力,這與實際使用環(huán)境條件有很大差異,因而未能如實地、全面地暴露產(chǎn)品的質(zhì)量情況?,F(xiàn)場使用試驗則不同,因為它是在使用現(xiàn)場進(jìn)行,故Most capable真實地反映產(chǎn)品的可靠性問題,所獲得的數(shù)據(jù)對于產(chǎn)品的可靠性預(yù)測、設(shè)計和保證有很高價值。對制定可靠性試驗計劃、驗證可靠性試驗方法和評價試驗性,現(xiàn)場使用試驗的作用則更大。
鑒定試驗是對產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評價時而做的試驗。它是根據(jù)抽樣理論制定出來的抽樣方案。在保證生產(chǎn)者不致使質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品被拒收的條件下進(jìn)行鑒定試驗。
三、可靠性試驗方法:
電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法有多種,下面介紹幾種常用的方法。
first種方法是“試驗——問題記錄——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時,不是立即進(jìn)行改進(jìn),而是把問題記錄下來,待在一個試驗階段結(jié)束以及下一個階段開始之前,根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理,集中地進(jìn)行改進(jìn),然后再進(jìn)行試驗。采用這種試驗法,產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗法,比較適用于一批試驗機(jī)中,出現(xiàn)幾個問題,其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。
第二種方法是“試驗——改進(jìn)——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過試驗,暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理,找出問題就立即改進(jìn),然后再試驗證實所解決的問題,使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段,通過系統(tǒng)試驗,暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后,根據(jù)具體情況,立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長,這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況,針對性較強(qiáng)。
第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗——改進(jìn)——再試驗"模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來,通過試驗發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題,有些改進(jìn)在試驗中了產(chǎn)品的問題,有些改進(jìn)在試驗中立即著手進(jìn)行,有些延緩到試驗結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗中,對能及時改進(jìn)的問題,立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品,提高可靠性,在試驗階段結(jié)束后,把延緩的問題至下次試驗開始前進(jìn)行改進(jìn),然后再進(jìn)行試驗,使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題,并且一些問題能短期容易改進(jìn)的,另一些問題卻需要相當(dāng)一段時間才能改進(jìn)的綜合情況。
對于以上所述的三種方法,電子產(chǎn)品在研制階段中,經(jīng)過系統(tǒng)的試驗,要根據(jù)暴露出的問題作具體分析,靈活應(yīng)用??煽啃栽囼炛谐S玫娜N方法往往是周而復(fù)始地循環(huán),并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長,另外可靠性試驗除通過系統(tǒng)試驗外,還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗、機(jī)械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),進(jìn)行綜合的科學(xué)分析,做相應(yīng)的改進(jìn),使得電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。
四、結(jié)束語
電子產(chǎn)品的可靠性十分重要,是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國電子儀器的可靠性試驗遵循的標(biāo)準(zhǔn)是GB11463《電子測量儀器可靠性試驗》,一般產(chǎn)品在鑒定時的可靠性指標(biāo)是300H,如果按常用的定時截尾試驗方案進(jìn)行可靠性考核,總的試驗時間要達(dá)到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段經(jīng)歷了反復(fù)多次的“試驗——分析——改進(jìn)——再試驗"的可靠性增長試驗過程。在這個過程中,由于采取了改進(jìn)設(shè)計及工藝措施等一系列措施來消除失效,使失效的發(fā)生逐漸減少,而可靠性得以增長。我國的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較International advanced標(biāo)準(zhǔn)還有差距,因此必須對國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究,真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計、生產(chǎn)、試驗和使用全過程中對可靠性水平作出準(zhǔn)確的評價,從而大大提高我國電子產(chǎn)品的可靠性水平,使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到Advanced world水平。