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溫度快速沖擊試驗箱

溫度快速沖擊試驗箱

簡要描述:溫度快速沖擊試驗箱可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃/min(40℃/min);.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

所屬分類:冷熱沖擊快速溫變試驗箱

更新時間:2024-05-23

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

溫度快速沖擊試驗箱賽思改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(2 Zoon)、高低溫+常溫沖擊(3 Zoon)、應(yīng)力篩選ESS,至少需要購買四臺設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設(shè)備才能完成的試驗,需耗費許多添購設(shè)備&占用空間的硬件成本, 一次解決您的需求,滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性,提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調(diào)整,我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定,賽思秉持著符合規(guī)范的原則,結(jié)合貼心的創(chuàng)新功能與技術(shù),期待您詳細了解。

溫度快速沖擊試驗箱特點:

1.可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;2.等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃/min(40℃/min);3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行;5.除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;7.感測器放置測試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實驗有效性;8.機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能;

技術(shù)創(chuàng)新:

傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式:制冷壓縮機啟停控制溫度(溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命,已淘汰的技術(shù))制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制(導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡,浪費了大量的電能)新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行:低溫工作狀態(tài),加熱器不參與工作,通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向,對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié),實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下,可實現(xiàn)降低40%的能耗。 該技術(shù)基于美國Sporlan公司定制型號的PWM控制閥:

該技術(shù)通過電磁閥的頻繁動作實現(xiàn)對各管道流量的調(diào)節(jié),標(biāo)準(zhǔn)電磁閥不能適應(yīng),會在很短時間出現(xiàn)金屬疲勞損壞,目前支持該技術(shù)的高性能閥門只有美國Sporlan公司生產(chǎn)的XM系列產(chǎn)品(該產(chǎn)品無法從正常渠道進口),下圖為電磁閥的區(qū)別。

可控范圍:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗

技術(shù)規(guī)格:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設(shè)定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內(nèi)

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃



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